金相制樣的目地是為了更好地展現(xiàn)原材料的真正顯微鏡機構(gòu)并使其得到精確觀查、評定、紀錄和精確測量，因而適當?shù)闹茦邮遣豢苫蛉钡摹?/span>

　　一般，在我們碰到金相制樣的真正顯微鏡機構(gòu)沒法觀查、評定、紀錄和精確測量的狀況時，大多數(shù)追朔早期不適當?shù)闹茦又迫∪^程或失效的制樣制取次序。金相制樣僅有在歷經(jīng)適當?shù)闹迫∪^程并展現(xiàn)真正的顯微鏡組織架構(gòu)后，觀查、鑒定、精確測量和紀錄的工作中才可以變的相對性輕輕松松非常容易。

　　工作經(jīng)驗證實，要在顯微鏡下獲得理想化的機構(gòu)圖象并并不是一件非常容易的事兒，只是一個極大的挑戰(zhàn)。即便如此，適當?shù)慕鹣嘀茦臃绞饺詿o法得到大家的充足高度重視。實際上，制樣的制取品質(zhì)是決策實驗取得成功是否的首要條件，如同那句經(jīng)典的電子計算機俗語所敘述的：“假如鍵入的是廢棄物，那麼輸出的也一定是廢棄物”。

　　金相制樣截取的標準：挑選有象征性的制樣是金相科學(xué)研究的逐漸，不高度重視抽樣的必要性經(jīng)常會危害實驗結(jié)果的成功與失敗。

　　截取制樣的部位，務(wù)必能定性分析原材料或構(gòu)件的特性及檢測的目地。

　?、賹α慵验_的緣故開展金相剖析時，金相制樣應(yīng)在構(gòu)件裂開部位截取。為了更好地獲得大量的材料，還必須在離去裂開源很遠的部位截取參照制樣，開展對比科學(xué)研究。

　　②針對加工工藝全過程或熱處理工藝不一樣的原材料或構(gòu)件，制樣的截取部位還要相對地更改。

　?、劭茖W(xué)研究剖析鑄造件的金相制樣機構(gòu)，務(wù)必從鑄造件的表層到管理中心另外觀查。依據(jù)各部位機構(gòu)的差別，進而掌握鑄造件的縮松水平。小零件可立即截取垂直平分模壁的橫剖面，大零件應(yīng)在垂直平分模壁的橫剖面上，從表層到管理中心截取好多個制樣。

　?、芾滠堜X型材或鑄鋼件抽樣應(yīng)考慮到表層有沒有滲碳、拆疊等缺點，及其非金屬材料夾雜物的評定，因此要在橫著和豎向上截取制樣。橫著制樣關(guān)鍵科學(xué)研究表層缺點及非金屬材料夾雜物的遍布，針對較長的鋁型材應(yīng)在兩邊各自截取制樣，便于較為夾雜物的縮松狀況；豎向制樣關(guān)鍵科學(xué)研究夾雜物的樣子，辨別夾雜物的種類，觀查晶體粒長的水平，可能逆性變形全過程中冷形變的水平。

　?、輾v經(jīng)各種各樣熱處理工藝的零件，顯微鏡機構(gòu)是較為勻稱的，因此只在任一橫截面上截取開展金相制樣就可以，另外要充分考慮表層狀況，如滲碳、滲氮、表層表層的鍍膜、空氣氧化等。